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X射線熒光分析儀器鍍窗厚度的影響
發(fā)布時(shí)間：2020-09-01 09:03:30 點(diǎn)擊：3714
X射線熒光分析儀器鍍窗厚度是選擇探測(cè)器時(shí)需要考慮的另一個(gè)要點(diǎn)，由于鍍窗對(duì)輕元素分析譜線的強(qiáng)吸收，使得其探測(cè)效率很低，采用25um的鍍窗，將很難測(cè)定Na等輕元素，故為分析輕元素，當(dāng)然希望鍍窗越薄越好。但過薄的鍍窗厚度其使用壽命也會(huì)受到影響。因此選擇鍍窗厚度時(shí)，應(yīng)根據(jù)擬分析的對(duì)象，確定合適鍍窗厚度的探測(cè)器，如果沒有實(shí)際需求，過分追求薄的鍍窗是沒有必要的。
創(chuàng)想能量色散熒光光譜儀
此外，對(duì)常規(guī)X射線熒光分析而言，通常的探測(cè)器厚度已滿足需求，如果需要分析重元素的K系譜線或高能粒子，探測(cè)器厚度也是需要重視的一個(gè)環(huán)節(jié)。探測(cè)器厚度越大，越有利于分析高能粒子或高能射線。
在選購一臺(tái)能量探測(cè)器時(shí)，一方面要考慮探測(cè)器的分辨率，另一方面還需要考慮是將主元素測(cè)定作為分析重點(diǎn)，以尋求盡可能寬的濃度測(cè)定范圍，還是尋求好的分辨率而偏重于微量元素分析，綜合與折中大概是通常的選擇。
總之，在選擇探測(cè)器時(shí)，應(yīng)根據(jù)擬分析對(duì)象，綜合考慮分辨率、線性響應(yīng)范圍、鉞窗厚度、探測(cè)器厚度及有效探測(cè)面積，權(quán)衡主、次、痕量元素分析范圍，有所側(cè)重，以達(dá)到有效滿足多數(shù)分析項(xiàng)目的目的。
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